Technology

产品技术

AOI产品线

       NEJ-AOI是国创科开发的检测装备，主要应用于OLED EL工艺段的particle及膜层缺陷检测。AOI系列与国创科的膜层与RGB系列设备配合可实现从喷印到检测的整体方案，更利于智能化管理，实现前后工艺闭环调整，提高产品质量与良率。

电话：027-63495836
邮箱：sales@whnite.com
立即咨询
技术参数 装备技术优势 更多产品

技术参数

  • ●基板尺寸：可定制
  • ●缺陷检测尺寸：3μm(可定制)
  • ●复检相机：5~20倍可选配
  • ●运动精度：≤±3μm
  • ●重复定位精度：≤±1μm
  • ●对焦及复检测：支持自动对焦及自动复检功能
  • ●异形检测：支持多种异形panel同时测试
  • ●缺陷分类功能：持缺陷自动分类