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产品技术

AOI装备

       NEI-AOI 是国创科开发的自动光学检测和异物分层仲裁功能检测装备。在传统 AOI 检测异物、气泡、亮点、暗点、亮线、暗线、无显、异显、GDS 、Mura 等基础上，搭载异物复核工位。利用小视野分层定位成像原理，对像素层图像进行缺陷层级分类处理，区分异物、坏点、灰层等缺陷类别。


电话：027-63495836
邮箱：sales@whnite.com
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技术参数 装备技术优势 更多产品

技术参数

  • ●基板尺寸：OLED\ LCD全尺寸面板
  • ●缺陷检测尺寸：对应一个子像素的图像可见缺陷检测分类
  • ●过漏检指标：漏检≤0.1%;过检≤5%
  • ●可应对产品分辨率：4K及以上
  • ●复核分层功能：区分产品像素层/Panel/POL/CG等层不良
  • ●自动化功能：自动WD ( 工作距离 ) 、自动对焦 、自动曝光 、画面质量分析
  • ●异形检测：支持多种异形panel同时测试

产品应用

  • 异物分层展示图

  • 异物分层展示图1

  • 异物分层展示图2

  • 异物分层展示图4