AOI装备

       NEI-AOI 是国创科开发的自动光学检测和异物分层仲裁功能检测装备。在传统 AOI 检测异物、气泡、亮点、暗点、亮线、暗线、无显、异显、GDS 、Mura 等基础上，搭载异物复核工位。利用小视野分层定位成像原理，对像素层图像进行缺陷层级分类处理，区分异物、坏点、灰层等缺陷类别。

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EF产品线

       NEJ-EF型装备是国创科开发的电流体修复装备。采用直写与电流体技术结合，收敛线宽，实现高精线的线路打印。配置高精度运动平台及喷头系统，可实现精密焊盘结构打印修复。配合AOI检测技术/装备，可形成检测修复一体解决方案。设备适用于Micro LED、TFT的焊点，线路的精准修复。

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